IC测试程序开发
货号：SL2015ICTEST001
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  性能测试按照产品型号实施，每单个产品测试按一个项目计。

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IC测试程序开发

辐射骚扰测量

SEM电子扫描显微镜分析

设备级可靠性筛选

筛选试验套装

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试验描述

试验名称：IC测试程序开发
试验编号：SL2015ICTEST001

按照相关标准和产品手册，分解测试需求，制定测试方案、测试向量转换、测试板设计开发、调试测试程序，形成最终的验证和量产测试程序，在目标测试机台上数字集成电路的电参数和功能测试。

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