高温试验 低温试验 温度循环、温度冲击 湿热试验 高压蒸煮试验 盐雾试验 低气压试验 热真空试验 淋雨试验 砂尘试验 IP防护等级
RS101 RS103 RS105 CS101 CS103 CS104 CS105 CS106 CS109 CS114 CS112 CS115 CS116
功率老炼（电阻电容筛选） 功率老炼（集成电路筛选） 功率老炼（分立器件筛选） 功率老炼（功率模块/DCDC筛选） 功率老炼（微波器件/微波电路） 高低电平高温运行（继电器筛选） 高低电平低温运行（继电器筛选）
GJB2015NSEE01
20世纪九十年代，美国IBM和波音公司开展的飞行试验证明：具有存储单元结构的航空电子系统会产生大气中子单粒子效应，可导致航空电子系统产生瞬态或永久性损伤，使航空电子系统的可靠性降低一至几个数量级。
大气中子辐射效应对航空电子系统的主要危害现象有：
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商城客服
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