超级试验室：中关村科技创新服务平台—中小企业试验中心（400-883-0063）

标准编号	标准名称
GBT4937-1995	半导体器件机械和气候试验方法
GB-T5080.1-1986	设备可靠性试验——总要求
AEC-Q101-Rev-C	STRESS TEST QUALIFICATION FOR AUTOMOTIVE GRADE DISCRETE SEMICONDUCTORS
GB-T5080.7-1986	设备可靠性试验——恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
AEC-Q100-Rev-G	STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS
HB5830.1-1984	机载设备环境条件及试验方法——总则
HB5830.2-1982	机载设备环境条件及试验方法——冲击
GJB1027A-2005	运载器、上面级和航天器试验要求
SJT10745-1996	半导体集成电路机械和气候试验方法
HB5830.3-1982	机载设备环境条件及试验方法——碰撞
HB5830.4-1982	机载设备环境条件及试验方法——恒加速度
HB5830.5-1984	机载设备环境条件及试验方法——振动
HB5830.6-1984	机载设备环境条件及试验方法——运输振动
HB5830.7-1985	机载设备环境条件及试验方法——炮击振动
HB5830.8-1984	机载设备环境条件及试验方法——高温
HB5830.9-1984	机载设备环境条件及试验方法——低温
HB5830.10-1984	机载设备环境条件及试验方法——温度冲击
HB5830.11-1986	机载设备环境条件及试验方法——湿热
HB5830.12-1986	机载设备环境条件及试验方法——盐雾
HB5830.13-1986	机载设备环境条件及试验方法——霉菌

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